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1、对于工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果。对于无缺陷的元器件，老化也可促使其电参数稳定。半导体器件常用的老化筛选方法。常温静态功率老化就是使器件处在室温下老化。半导体的PN结处于正偏导通状态，器件老化所需要的热应力，是由器件本身所消耗的功率转换而来的。

2、由于器件在老化过程中受到电、热的综合作用，器件内部的各种物理、化学反应过程被加速，促使其潜在缺陷提前暴露，从而把有缺陷的器件剔除。这种老化方法无需高温设备，操作也很简便，因此被普遍采用。在器件的安全范围内，适当加大老化功率（提高器件结温）可以收到更好的老化效果，并且可以缩短老化时间。

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电子元器件加速实验报告

[衰减器作用]数控衰减器AT-280及其在接收机性能测试中的应用。数控衰减器作为一种新型的衰减器在电子领域有着广泛的应用，文章介绍了数控衰减器AT-280的结构、特性参数以及控制使用方法，同时重点介绍了AT-280在雷达接收机噪声系数测试和灵敏度测试中的应用。【ht7550】HT7500型高精度微型化医用数字体温计。

HT7500是一种可广泛用于医院和家庭中的新型高精度多功能医用数字体温计集成电路。文中介绍了HT7500的主要功能和工作原理，给出了采用HT7500设计的数字体温计的实际电路和工作流程。电子元器件测量实验报告。电子元器件测量实验报告一、实验目的学习用万用表对电阻、电位器、电容、二极管...。

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在以上三种不同种类的加速寿命实验中，使用次数最多的是恒定应力加速寿命实验，这种实验方式与理论基础较为成熟，也被IEC标准采纳。在多次的具体实验中已经能够获得正确的验证，弊端是实验过程较长。3加速寿命实验技术探究3.1加速应力类型。加速寿命实验一般所说的应力为机械应力（比如压力、震动、冲撞等）、热应力（即温度）、电应力（例如电压、功率等）。

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